椭偏仪实验中的一个问题

摘要：

椭偏仪是研究薄膜与物质表面的一种很重要的仪器，其基本原理是利用偏振光在物质表面反射后偏振状态的变化来测量薄膜的厚度和折射率。它的物理思想明确，设计方法巧妙。本文指出了一些教材中关于椭偏仪实验原理中的一个不确切提法，并给出了分析和证明。

关键词： 椭偏仪 等幅椭圆偏振光 圆偏振光 薄膜厚度 测量方法

作者: 鲁长宏

作者单位: 北京理工大学物理实验中心，北京 100081

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国高等学校物理实验教学研讨会

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 258-260

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）