单色光测薄透明体厚度和折射率

摘要：

提出用单色光等倾干涉条纹同时测量薄透明体厚度和折射率方法，迈克耳孙干涉仪光学系统经测量前校准不再改变，测量过程中只需调整、更换被测物，观察、测量被测物和等倾干涉条纹.实验证明，这种方法精确、简单、快捷。

关键词： 迈克耳孙干涉仪 单色光 折射率 薄透明体 厚度测量

作者: 邓晓颖

作者单位: 西安工业学院数理系，西安 712023

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国高等学校物理实验教学研讨会

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 176-178

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）