抗静电/抗栓锁测试主要国际规范及最先进的自动化测试系统

摘要：

由于集成电路技术的日新月异其元器件内部线路结构愈加细密复杂，相对于抗静电/抗栓锁的能力也就愈加困难和重要，尤其是静电放电对于元器件不只会造成及时的破坏更有可能造成潜伏性的伤害增加成本和商誉的损失。本文将就全球抗静电/抗栓锁之主要国际规范做一简要说明和比较，并就抗静电/抗栓锁测试系统性能以及相对于国际规范中之测试方法和计量安排做一相对应的介绍以做为测试或选购时的参考之用。

关键词： 抗栓锁测试 抗静电测试 自动化测试 测试系统 集成电路

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届中国国际集成电路研讨会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 316-317

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）