非接触IC卡芯片的低成本测试
随着RFID技术和规范的不断成熟，我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题，本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比，该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能，结合RFID应用模块，就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本，测试时间很短，并且有很好的灵活性。
非接触IC卡 芯片测试 混合信号 信号测试 数字电路 射频识别
刘口
爱德万测试(苏州有限公司)上海分公司
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204-207
2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）