用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC的测试
随着通讯和电子技术的发展，用于通讯接口的模拟芯片的采样频率也越来越高，测试难度也相应大大增加。ADVANTEST使用高速混合信号测试系统对其进行评价。本文以用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC为例，详细介绍了其具体测试过程，对具体测试时所用方法及所用部件WVFG/WVFD进行了说明。而WVFG/WFVD作为高速混合信号测试部件，其测试能力最高可达250MHz采样频率，解决了高速ADC/DAC测试(尤其是AC参数测试)的难题，完全可以满足当前高速混合信号芯片的测试。
混合信号测试 通讯接口 模拟芯片 采样频率 芯片测试
朱海平
爱德万测试(苏州)有限公司
国内会议
上海
中文
70-73
2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）