Opteron平台的性能测试与评价研究

摘要：

性能测试和评价是高性能计算领域的重要研究方向。本文从系统一应用关系角度进行分析，指出访存性能是影响实际应用性能的关键，Xeon片面追求主频，而访存能力不足是其性能表现不理想的根本原因。

关键词： 并行计算机 计算机测试 网络访问 数据存储

作者: 彭柳 戴正华 冯高峰 冯圣中

作者单位: 华中科技大学计算机科学与技术学院,中国科学院计算技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第8届全国并行计算大会

会议地点: 辽宁大连

会议语种:中文

页码: 181-184

在线出版日期: 2004-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）