用RTCM算法研究-维光子晶体的缺陷模
21世纪新型光电子材料--光子晶体的卓越性能已经引起人们广泛关注。本文利用光栅的矢量衍射理论之一——RTCM算法研究有缺陷的一维光子晶体的禁带和缺陷模,通过调节入射角,杂质层的光学厚度以及杂质层的折射率从而得出一些有重要指导意义的禁带和缺陷模特性。最后对有缺陷的一维光子晶体应用在窄带滤波器中做了一定程度的探讨。
一维光子晶体 RTCM算法 光子禁带缺陷模 光电子材料 矢量衍射 窄带滤波器
卢向东
桂林电子工业学院,桂林,541004
国内会议
南宁
中文
47-50
2004-10-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)