射频/微波半导体器件参数测量技术及其对仪器的需求
随着科学技术的进步和信息产业的发展,对射频,微波半导体器件的需求在快速增长,加之CAD技术的广泛应用。人们对器件参数的测量十分关注。不仅器件的生产者要研究如何准确测量器件的参数。使用者也希望能够测量器件参数,近年来一些用户单位也在建立自己的器件参数测量系统。以验证器件是否达到所要求的指标。本文主要介绍射频/微波功率器件、低噪声器件和微波单片集成电路的测量方法，以期通过交流,推动我国射频,微波半导体器件测量技术的进步。
器件参数测量 微波半导体器件 低噪声器件 集成电路
郑延秋
中国电子科技集团公司第十三研究所
国内会议
上海
中文
39-44
2004-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）