21世纪电子仪器及自动测试系统的新概念和新趋势

摘要：

在科技日新月异的今天，新的测试技术及新的电子元器件设计和制造技术不断推动着电子测量仪器设计水平向前发展。本文介绍了21世纪电子仪器及自动测试系统出现新趋势的三方面特点，指出NxTest将在继承现有测试技术的基础之上，带来下一代测试技术和测试仪器，特别是ATS测试系统的革新。

关键词： 电子仪器 自动测试系统 电子元器件 电子测量 测量仪器

作者: 汪晓东

作者单位: 安捷伦科技有限公司电子仪器与系统事业部

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年21世纪中国电子仪器发展战略研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 52-54

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）