破坏性物理分析(DPA)方法在识别假冒、翻新集成电路中的应用

摘要：

有时候电子元器件的采购渠道不很通畅,电子元器件在到用户手中之前,要经过多次倒手。在此过程中,不法商人为了经济利益,很容易把假冒、伪劣商品混入正规产品中，这会对电子元器件使用方造成巨大的经济损失。本文结合破坏性物理分析(DPA)，对假冒电子元器件的识别进行了探讨。

关键词： 电子器件 集成电路 假冒元件 元件识别

作者: 肖诗满 李少平 雷志锋

作者单位: 信息产业部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 广州 510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十四届青年学术年会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 164-166

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）