芯片产品质量与可靠性保障技术与标准

摘要：

芯片产品的质量与可靠性高低直接影响MCM/HIC的性能和可靠性。本文介绍了裸芯片技术、裸芯片质量与可靠性保障的主要内容和芯片产品标准的发展和现状，为通过功能参数测试、老炼筛选、芯片信息等保证裸芯片的质量与可靠性提供了规范参考,为裸芯片的高可靠性应用提供了技术支撑。

关键词： 集成电路 芯片设计 裸芯片技术 可靠性测试

作者: 黄云 杨少华 恩云飞

作者单位: 信息产业部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十四届青年学术年会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 65-69

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）