微波频率对硅双极型晶体管微波烧毁效应的影响

摘要：

基极注入晶体管的微波脉冲有可能导致晶体管烧毁.频率是微波脉冲的重要参数之一.本文仿真研究了该参数对硅双极型晶体管管芯烧毁过程的影响,得到以下结论,对目前常见的微波脉冲骚扰源和小功率硅双极型晶体管管芯而言,存在一个拐点频率,在拐点频率以上,频率对烧毁所需功率无明显影响;而在拐点频率以下,烧毁所需脉冲功率随频率降低而升高.本文进一步分析了这一现象物理机制.

关键词： 微波脉冲 双极型晶体管 基极注入 烧毁效应

作者: 陈曦 杜正伟 龚克

作者单位: 清华大学 电子工程系 微波与数字通信技术国家重点实验室 北京 100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第十二届微波集成电路与移动通信学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 102-105

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）