半导体器件的失效率和计算方法

摘要：

本文分析了半导体器件失效率的变化趋势或可靠性改进的情况,以一种半导体器件的实例数据介绍了如何采用新概念计算半导体器件的失效率的方法。

关键词： 半导体器件 可靠性分析 失效率计算

作者: 杨绸绸

作者单位: 燕山大学信息科学与工程学院,燕山大学信息科学与工程学院办公室,066004

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十四届青年学术年会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 12-14

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）