GaSb多晶薄膜的性质研究
本文采用共蒸发方法制备GaSb薄膜。XRD测试结果表明,薄膜为多晶结构,具有(111)择优取向;随着衬底温度的升高,薄膜晶粒尺寸增大;光学测试表明,薄膜的吸收系数达到104cm-1,制备的薄膜的光学带隙为0.726eV;Hall测试表明薄膜导电类型为P型;在350温度下退火后,薄膜晶体质量劣化,表面的Sb含量增加。
锑化镓 共蒸发 择优取向 光学带隙 多晶薄膜
乔在祥 孙云 何炜瑜 刘玮 何青 李长健
南开大学信息技术科学学院光电子研究所 天津 300071
国内会议
常州
中文
623-626
2008-09-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)