低功耗型X-DSP中JTAG结构的设计与实现

摘要：

本文通过对目前国际上数字电路的各种可测性设计技术和方法的研究,介绍了相关可测试性技术的基本概念,并根据X-DSP的特点和其对调测试的具体需求,提出了包含边界扫描设计和全扫描内部测试技术在内的一整套可测性设计和调试方案.

关键词： X-DSP JTAG结构 可测试性设计 调试方案

作者: 张颖 孙永节

作者单位: 国防科技大学计算机学院,湖南 长沙 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET”08)

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 387-388

在线出版日期: 2008-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）