基于扫描链的数字电路硅验证技术研究

摘要：

本文首先说明硅验证的重要性,然后针对芯片内关键数字电路的硅验证实际困难,介绍一种基于扫描链实现硅验证的方法。这种方法解决了关键数字电路的硅验证面临难点,能有效减少测试电路的投片面积,并且通用性很好,具有一定的实用价值.

关键词： 数字电路 硅验证 扫描链

作者: 龚佑贵 乐大珩 衣晓飞 李少青

作者单位: 国防科技大学计算机学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET”08)

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 358-362

在线出版日期: 2008-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）