一种提高RAM成品率的电路设计方法

摘要：

本文提出了一种提高RAM成品率的电路设计方法,通过添加冗余存储单元以及对应的字线和位线,提高了芯片的成品率和可靠性,降低了芯片的制造成本.本文设计并实现了冗余单元的替换电路,模拟结果表明,该电路能够正确地替换RAM中有缺陷的行和列.

关键词： 内存储器 电路设计 成品率 可靠性

作者: 赵容 孙永节 刘宏 穆长富

作者单位: 湖南师范大学数学与计算机学院,湖南,长沙,410081

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET”08)

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 43-44

在线出版日期: 2008-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）