PCF8563芯片的测试程序开发研究

摘要：

本文主要通过分析12C总线的工作原理及其特点后,具体对PHILIPS公司生产的PCF8583的进行测试开发,提出对采用串行接口的日历时钟芯片的一般测试方法。

关键词： 12C总线 测试程序 芯片测试 程序开发 时钟芯片 串行接口

作者: 韩红星

作者单位: 武汉数字工程研究所 武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 426-428

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）