边界扫描技术在测试BS-NBS结构电路上的应用

摘要：

通过对边界扫描测试技术的研究,提出了在BS芯片与非BS芯片之间判断故障的一种方案,设计并实现了能够判断出连线故障的连通测试软件和硬件,并且在S3C2410板上进行了验证.

关键词： 边界扫描测试 连线故障 测试软件 板上测试

作者: 钱军 苗百利 左德承 杨孝宗

作者单位: 哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院,中国 哈尔滨 150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 389-390

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）