基于JTAG扫描链的嵌入式处理器IP核调试方法研究

摘要：

本文描述了一种嵌入式处理器IP核的调试电路结构设计方法,重点讲述了在片调试系统的设计,同时讲了相关调试流程.调试系统使用仿真器使得调试器与处理器CORE内核通过JTAG接口进行通信.调试器通过JTAG扫描链取指方式将指令插入到处理器CORE内核中去执行.片内配置两条扫描链,分别对应片内调试模块和存储器读写总线,事实上,内核的扫描链在用作调试的同时,也可作为测试使用。

关键词： 处理器 扫描链 调试电路 IP核 在片调试系统

作者: 孟德刚 邱善勤 谢学军 孙加兴

作者单位: 信息产业部软件与集成电路促进中心(CSIP),中国 北京 100038

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 386-388

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）