基于蚁群算法的SOC测试存取机制和测试壳联合优化

摘要：

针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC中Wrapper/TAM联合最优化方法,用于缩短最长扫描链长度,并减少SoC的测试时间.对ITC2002基准SoC电路进行测试优化实验,结果表明此算法能有效解决SoC测试优化问题,与算法设计目标较为符合.

关键词： 测试壳 蚁群算法 测试访问机制 系统芯片 芯片测试

作者: 程伟 崔小乐

作者单位: 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室,中国 广东 深圳 518055

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 362-366

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）