组扩展编码在测试数据压缩中的应用

摘要：

为了减少SoC芯片的测试数据,本文提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案.该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成.组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果,而且能够更好地适应于不同的测试电路.

关键词： 测试数据 组扩展编码 数据压缩 游程编码 片上系统 芯片测试

作者: 王保青 梁华国 詹文法

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥 230009 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥 230009 安庆师范学院教育技术系,安庆 246011

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 316-320

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）