扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计

摘要：

在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值,可以显著的减少测试应用时间,但是测试需要的引脚数和测试响应数据量增大.为了减少扫描树测试结构需要的引脚数以及测试响应数据量,同时克服错误位扩散带来的困难,本文在异或网络的基础上,提出了一种适用于扫描树结构的测试响应压缩器.该压缩器由扩散抑制电路和异或网络构成,通过抑制电路消除错误位扩散给测试响应压缩带来的困难.最后用实验数据从性能上分析了该测试响应压缩器的适用性,对于ISCAS”89标准电路,最高将输出压缩74倍,且没有别名产生.

关键词： 可测试性设计 全扫描测试 扫描树 测试响应压缩 异或网络 标准电路

作者: 成永升 尤志强 邝继顺

作者单位: 湖南大学计算机与通信学院,中国 长沙 410082 湖南大学软件学院,中国 长沙 410082

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 306-310

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）