一种以应用为导向的非接触射频卡芯片的全新测试方法

摘要：

本文通过简单介绍RFID技术,并分析目前RFID测试技术的热点,结合实际工作经验提出对RFID直接耦合测试以及并行测试的一些理解.

关键词： 电阻耦合 并行测试 非接触射频卡 芯片测试 直接耦合 耦合测试

作者: 蒙喜鹏 林建京

作者单位: 北京微电子技术研究所,中国 北京 100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 220-222

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）