基于SAPPHIRE测试系统的VCD测试向量转换

摘要：

本文基于SAPPHIRE集成电路测试系统,介绍了自行开发的从VCD测试向量到STIL测试向量的转换软件及流程.该软件及流程很好的实现了从设计到测试间的链接.经实践证明,转换效率和准确性很高,具有良好的推广应用价值.

关键词： 集成电路 测试向量 电路测试系统 转换效率

作者: 曲芳 陈冬 林敏

作者单位: 江南计算技术研究所,中国 无锡 214083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 210-212

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）