超大规模集成电路测试开发技术及流程

摘要：

本文介绍了超大规模集成电路从测试规划到批量筛选过程中各部分的测试开发技术及流程,这些开发技术及流程通过了多个测试项目的实践检验,有较强的通用性和实用价值.

关键词： 测试方案 测试接口板 测试向量 批量筛选 超大规模集成电路 电路测试

作者: 张慧 曲芳 王剑

作者单位: 江南计算技术研究所,中国 无锡 214083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 206-209

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）