多核处理器瞬态故障敏感性分析

摘要：

随着纳米制造工艺在高性能处理器制造中的广泛应用,集成电路特征尺寸进一步减小、电源电压不断降低和运行频率日益升高,使得瞬态故障日益成为处理器设计面临的严峻挑战。本文结合一款多核处理器,采用故障注入法进行瞬态故障敏感性分析.实验结果表明,多核处理器中寄存器文件、取指队列和重定序缓冲的瞬态故障敏感性较高,平均结构敏感因子接近15％,这对设计者如何提高多核处理器可靠性提供了一定的指导意义。

关键词： 多核处理器 瞬态故障 故障注入 敏感性分析 故障敏感性 集成电路

作者: 潘送军 胡瑜 李晓维

作者单位: 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190 中国科学院研究生院,中国 北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 166-170

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）