Flash存储器测试与修复方法概述

摘要：

Flash存储器作为一种非易失性存储器,由于其特有的低功耗、存储密度大等特性被广泛应用于各种便携式电子设备中.由于深亚微米工艺的不确定性,Flash存储器在生产过程中存在各种缺陷,从而导致存储器失效,成品率降低。如何有效地检测各种缺陷引起的故障,提高存储器成品率和可靠性是学术界和业界共同关注的问题。本文通过介绍Flash存储器特有的故障类型,简要阐述了Flash存储器的测试流程和测试算法,并简单描述了修复Flash存储器修复方法所面临的问题,如修复时需要考虑的冗余结构设置和冗余分配方法受到的约束等。

关键词： Flash存储器 故障类型 测试方法 冗余分配 测试流程 测试算法

作者: 王达 胡瑜 李晓维

作者单位: 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190 中国科学院研究生院,中国 北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 151-155

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）