基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法

摘要：

随着缺陷密度增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元,成为提高存储器成品率的常用方法。然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低,冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构.本文提出了一种使用内容可寻址存储器作为冗余字来替代故障字,使用冗余行和冗余列分别修复行/列地址译码故障的修复方法。本文所提的冗余设计和分配方案简单易行,冗余资源和CAM的面积开销小,不仅便于扩展到不同类型的存储器,且不受限于厂商提供的冗余资源,且对高失效密度存储器具有更好的修复效果.实验结果表明,这种修复方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和CAM面积开销最小为已有二维冗余修复方法的25％左右.

关键词： 内建自测试 内建自诊断 内建冗余分析 内建自修复 内容可寻址存储器 冗余设计

作者: 谢远江 王达 胡瑜 李晓维

作者单位: 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190 中国科学院研究生院,中国 北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 144-150

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）