高性能液晶电视控制芯片的量产优化测试方案
实现了一种针对液晶控制芯片的量产优化测试方案。在液晶控制芯片的测试中，高精度ADC/DAC,低精度ADC和高速IO接口是其主要测试对象。通常使用RAMP波测试高精度ADC/DAC的线性特性;使用混合信号测试低精度ADC;使用直连方式测试HSIO。在规模量产情况下、这些常规方法无法满足缩短测试时间，降低测试机台配置成本和获取高精度测试结果的要求。本文介绍了一种优化测试方案来解决以上问题。经实际验证，采用本方案测试时问将缩短6％。
液晶控制芯片 RAMP波 优化测试 最小化传输差分信令
陆明
惠瑞捷半导体科技(上海)有限公司 上海201203
国内会议
苏州
中文
80-83
2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）