由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成

摘要：

用伪随机向量加确定性向量对数字电路进行测试是一种常用的测试方法。本文针对由被测电路自己产生测试向量取代LFSR伪随机向量,提出一种基于遗传算法的自动测试向量生成算法。将该算法生成的测试向量与MinTest给出的部分确定性测试向量结合起来对电路进行测试.文中给出了一些加速自动测试生成过程的有效措施.模拟实验结果表明,本文提出的方法较传统的LFSR与ROM相结合的测试方法,在不降低故障覆盖率的情况下,测试向量总长度和ROM大小分别降低了16.40％和33.26％.

关键词： 自动测试向量生成 线性反馈移位寄存器 伪随机测试 遗传算法 数字电路 被测电路

作者: 邝继顺 刘钦 尤志强

作者单位: 湖南大学计算机与通信学院,湖南长沙,410082 湖南大学软件学院,湖南长沙,410082

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 30-35

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）