某BIT测试性指标验证系统的研究与实现

摘要：

在分析构建测试性指标验证系统原因的基础上,以新的思路引入了故障注入技术,并对验证系统的结构及工作原理、软硬件实现、驱动程序设计和验证系统工作流程进行了深入研究.该验证系统的实现利用了FPGA、PCI、VHDL技术和一种混合故障注入方法,增强了验证系统的易操作性和可实现性,从而使得该验证系统有较强的实际应用价值.

关键词： 混合故障注入 硬件描述语言 现场可编程门阵列 测试性指标 指标验证系统

作者: 舒晓芬 王晓峰 余鹏

作者单位: 北京航空航天大学 工程系统工程系 北京 100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 河南焦作

会议语种:中文

页码: 369-373

在线出版日期: 2008-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）