集成电路高温动态老化系统校准方法研究

摘要：

本文在分析集成电路老化原理和老化系统结构的基础上,提出了集成电路高温动态老化系统的校准方法,重点阐述了对老化系统二级电源和信号驱动单元的校准方法。

关键词： 集成电路 高温老化 校准方法 信号驱动单元

作者: 王酣 陈大为 吴京燕 郭守君

作者单位: 中国电子技术标准化研究所计量与检测中心 北京 100007

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 河南焦作

会议语种:中文

页码: 771-774

在线出版日期: 2008-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）