基于显微透镜-面阵CCD的微孔自动测试研究

摘要：

微小尺寸测量和高精度测量一直是测试技术中的瓶颈技术。本文将现代光学测试技术、计算机技术和光电子技术相结合,研制了基于显微透镜-面阵CCD-计算机的检测系统,从硬件和软件两个方面对测试装置进行了设计,解决了非线性平滑、阈值的确定和边缘提取等关键技术,实现了对微小尺寸工件(微孔、线、直径)的高精度、非接触、实时自动检测。

关键词： 精密测量 显微透镜 面阵CCD 计算机技术

作者: 姜淑华 刘东月 王文生

作者单位: 长春理工大学 长春 130022

会议类型: 国内会议

会议名称: 第19届中国过程控制会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 791-794

在线出版日期: 2008-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）