基于802C数控系统的二次开发技术研究

摘要：

本文分析了西门子802C数控系统的软硬件结构,以数控系统实验平台为基础,对802C系统的二次开发技术进行研究;详细分析802C系统集成PLC开发技术与通用PLC S7-200的差异.提出一种针对于PLC循环周期的测试方法。

关键词： 二次开发 PLC技术 循环周期 数控系统 测试方法

作者: 张建宝 文立伟 肖军 李勇

作者单位: 南京航空航天大学 南京 210016

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届仪表、自动化与先进集成技术大会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 379-383

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）