X荧光光谱法测定钛铁中Ti、Si、P、Mn、Cu

摘要：

采用X荧光光谱法测定钛铁中Ti Si P Mn Cu,用简单的压片方法,具有准确度高及分析快速的特点.

关键词： X荧光光谱法 钛铁 压片方法 仪器维护

作者: 杨平 金爱娣

作者单位: 中信锦州铁合金股份有限公司质检中心 锦州 中国 121005

会议类型: 国内会议

会议名称: 第17届全国铁合金学术研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 217-219

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）