X射线荧光光谱法测定结晶器保护渣中各组份

摘要：

研究了用XRF融片法测定保护渣中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、Fe2O3、Na2O、K2O和F八组分的样片制备方法、试验的分析条件、工作曲线的配制.方法精密度为:(RSD对应元素).优于了相应化学分析检测标准规定的精密度.

关键词： XRF X射线荧光光谱法 结晶器 融片 保护渣组份测定 样片制备 化学分析检测

作者: 丁明 李小杰 齐郁 刘俊

作者单位: 武汉钢铁股份有限责任公司质检中心 武汉 430080

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 246-248

在线出版日期: 2008-07-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）