电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼系列生产材料中19种杂质元素

摘要：

钼系列生产过程中钼粉、二氧化钼、三氧化钼、钼酸铵的分析中,有些杂质在ppm级,必须采用ICP-AES测定.必须采用基体匹配法消除基体钼的干扰,为此采用湖南株洲硬质合金厂研制的三氧化钼光谱标样建立各杂质元素的工作曲线,称为”多点法工作曲线”;并研究出了数据处理的”简易校正法”,得到可靠的终值.

关键词： ICP-AES测定 钼系列材料测定 杂质元素 多点法工作曲线 简易校正法 数据处理 电感耦合 等离子体原子发射光谱法

作者: 沈雪明 沈永妹 孟欢

作者单位: 无锡市金义博仪器科技有限公司 无锡 214151 陕西华钼实业有限公司 西安 710075

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 86-89

在线出版日期: 2008-07-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）