机载电子产品贮存可靠性研究

摘要：

在航空领域，大部分产品在全寿命周期内贮存状态的时间要比工作状态的时间长得多，而电子产品在贮存状态下对各种环境应力（如潮气、化学物质、冲击、振动或环境温度等）大多敏感而使产品的物理性能下降，经过一段的贮存后，电子产品的性能便达不到规定的要求。本文研究了航空机载电子产品的贮存故障模式、故障机理、可靠性模型，并探讨了贮存可靠性试验与评估技术。

关键词： 电子设备 贮存可靠性模型 可靠性试验与评估

作者: 王少萍 王晓梅

作者单位: 航空航天大学自动控制系

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会控制与应用第八届学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 197～201

在线出版日期: 1998-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）