缩短电子设备寿命试验时间的灰色理论与方法

摘要：

采用灰色系统理论中的ＧＭ（１，１）模型对电子设备失效寿命试验数据进行数值拟合和预测，可缩短试验时间，节约试验费用。实例表明，灰色系统理论与方法应用于电子设备失效寿命试验数据处理中是可行的，且有效高的预测精度。

关键词： 电子设备 寿命试验 灰色GM(1,1)模型

作者: 谭冠军

作者单位: 工业大学机电工程学院(长沙)

会议类型: 国内会议

会议名称: 1998年中国智能自动化学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 1153～1157

在线出版日期: 1998-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）