现代电子设备失效的机理与预防

摘要：

近期研究表明，电子设备的失效不是随机的，其机理是耗损性的疲劳和腐蚀。其失效的根本预防途径是用完整性大纲来保证其可靠性。该大纲采用损伤容限与耐久性设计，可将电子设备的可靠性比用常规可靠性设计提高10倍。

关键词： 电子设备 可靠性 完整性大纲 失效 机理 预防

作者: 王立群

作者单位: 第一研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三次全国机电装备失效分析预测预防战略研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 245～248

在线出版日期: 1998-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）