OSP实际膜厚的测定及其保焊性能研究

摘要：

运用FIB技术对OSP涂层的实际膜厚做了测试,建立了UV法的膜厚计算公式,并对OSP涂层的保焊性能做了详细研究.

关键词： 印制电路 OSP涂层 膜厚测量 FIB技术 保焊性能

作者: 肖定军 刘彬云 王恒义

作者单位: 广东东硕科技有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国印制电路学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 299-305

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）