印制线路板CAF失效分析

摘要：

本文通过对CAF生长机理以及失效案例的分析,介绍由于CAF生长给电子产品可靠性带来的潜在风险,并且提出了控制CAF生长,提高电子产品的质量与可靠性的措施.

关键词： 印制电路板 CAF生长 产品质量 可靠性 失效分析

作者: 汪洋 莫芸绮 聂昕 何波 关健 万永东 徐玉珊 吴向好

作者单位: 信息产业部电子第五研究所可靠性分析中心 电子科技大学应用应用化学系 珠海电子科技股份有限公司技术中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国印制电路学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 197-200

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）