集成电路老化测试插座的结构形式

摘要：

集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂.本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍.

关键词： 集成电路 老化测试 表面贴装 测试插座 结构形式

作者: 肖颖 周庆平 余珺

作者单位: 中国电子科技集团公司第四十研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会元件分会第十届学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 135-140

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）