红外热像仪在电子设备热设计检查中的应用

摘要：

在电子设备的研制和设计阶段,热测试与分析是热设计中的重要环节.本文阐述了利用红外热像仪对电子设备关键部位进行热测试,检查电子设备内部温度分布情况,与设计目标进行比较与纠正,达到热设计的最终目的.

关键词： 电子设备 热设计检查 红外热像仪 热测试 设备温度分布

作者: 张蕊 汪凯蔚

作者单位: 信息产业部电子第五研究所,广东 广州,510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 197-202

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）