大功率半导体激光器老化筛选及寿命试验系统

摘要：

本文探讨了半导体激光器老化及寿命测试的理论依据.给出了加速寿命测试的数学模型,(串)据此研制了大功率半导体激光器老化筛选及寿命试验系统,该系统具备温度、电流不同应力以及不同应力水平进行加速寿命试验的功能.

关键词： 半导体激光器 老化筛选 加速寿命试验 数学模型 应力水平

作者: 路国光 雷志峰 杨少华 黄云

作者单位: 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,信息产业部电子第五研究所,广州,510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 160-163

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）