集成电路(半导体元器件)ESD失效模式及防护技术研究

摘要：

本文论述了静电放电危害及模型,并对集成电路(半导体元器件)静电放电试验失效模式及防护技术作了较为详尽的描述,最后对复杂电磁环境中的集成电路ESD保护问题进行了探讨.

关键词： 静电放电 集成电路 半导体元器件 失效模式 防护技术

作者: 陈燕

作者单位: 信息产业部电子五所安全与电磁兼容检测中心 广州市

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届电子产品防护技术研讨会

会议地点: 贵州安顺

会议语种:中文

页码: 146-150

在线出版日期: 2008-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）