集成电路ESD设计验证技术
TLP测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具. 本文分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在ESD大电流应力下的IV特性曲线,提取特征参数将有利于ESD加固设计的一次成功;通过对典型TLP测试波形的分析,将TLP试验与器件的大电流响应建立了联系;最后对扩散电阻和nMOSFET的TLP典型IV特性进行了分析,并给出了实际的设计参数.
TLP测试 ESD设计 IV特性 集成电路
罗宏伟 肖庆中
信息产业部电子五所分析中心 510610
国内会议
贵州安顺
中文
134-138
2008-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）