会议专题

低损耗、高Qm的(Na0.5K0.5)NbO3掺杂Cu2Ta4O12无铅压电陶瓷

本文将Cu2Ta4O12作为一种新型的助烧剂材料,通过普通陶瓷制备工艺,合成了具有低介电损耗、高Qm值的(Na0.5K0.5)NbO3+xmo1%Cu2Ta4O12 无铅压电陶瓷材料体系,并且研究了Cu2Ta4O12掺杂对(Na0.5K0.5)NbO3压电陶瓷材料的微观结构、介电性质,压电性质等各方面的影响.研究结果发现,Cu2Ta4O12的掺杂有效增加了(Na0.5K0.5)NbO3陶瓷材料的致密度.在试验掺杂范围内,该体系陶瓷材料均为正交钙钛矿结构,其四方-立方相变温度和正交-四方相变温度随掺杂Cu2Ta4O12比例的增加而降低.Cu2TaO12的掺杂使(Na0.5K)NbO3的压电性质向”硬性”的方向变化,当x=0.75mo1%时,Qm值可达1718,相应的d33,为85pC/N,Kp为0.36,介电损耗为0.36%.

无铅压电陶瓷 微观结构 介电特性 压电特性

苏文斌 王矜奉 张家良 王春雷 郑鹏 郑立梅 杜鹃 吕应刚 吴玲

山东大学物理学院,晶体材料国家重点实验室 山东 济南 250100

国内会议

中国电子学会第十五届电子元件学术年会

北京

中文

71-76

2008-11-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)