电子元器件内部水汽含量与密封性关系的研究——有关氦质谱细检漏的军用标准应当修改

摘要：

通过对密封性氦质谱细检漏漏率公式的推演、典型实例和漏率判据的计算,国内外军用标准的分析,研究发现现行有效的中国和美国军用标准的漏率判据普遍保证不了上百天或更长贮存使用时间的内部水汽含量要求,这必将危及密封元器件的可靠性,所以有关密封性氦质谱细检漏的中国国家军用标准应当修改.

关键词： 密封性 氨质谱细检漏 漏率判据 水汽含量 军用标准 电子元器件 可靠性

作者: 王庚林 王莉研 董立军

作者单位: 北京市科通电子继电器总厂 邮编 100054 北京市科通电子继电器总厂 邮编 100054

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十五届电子元件学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 38-45

在线出版日期: 2008-11-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）